Analyseur d'image à projection crantée entièrement automatique

I. Introduction de l'analyseur d'image de projection d'encoche entièrement automatique:

Analyseur d'image à projection crantée entièrement automatiquePrincipalement appliqué à l'analyse de l'entaille de l'échantillon d'impact dans la détection des matériaux métalliques, il dispose d'une technologie d'image optique caractéristique pour tester l'entaille de l'échantillon d'impact V type U image de l'entaille à travers l'appareil photo mégapixel et l'objectif, l'acquisition d'images sur l'écran d'ordinateur, la capture automatique par un logiciel de mesure dédié, la décision automatique, la mesure précise de la taille de l'échantillon d'impact V, U. Réaliser une mesure automatique en un clic, identifier automatiquement le bord de l'encoche, étiqueter automatiquement les données de mesure, juger instantanément si l'échantillon est qualifié selon la plage de tolérance spécifiée par l'échantillon Standard GB / t 229, enregistrer automatiquement les résultats de mesure.

II. Principaux paramètres du projecteur à encoche:

2.1Le châssis utilise des tiges à billes de haute précision et dispose d'un guidage assisté par curseur linéaire élevé, garantissant une rigidité suffisante du châssis ainsi qu'une précision de fonctionnement;

2.2Source lumineuse de l'équipement: adopte la source lumineuse de rétroéclairage parallèle de LED sans ombre et sans réflexion, la lumière de la source lumineuse est uniforme et la luminosité peut être ajustée;

2.3Objectif d'analyseur d'encoche: Adoptez le mégapixel industriel élevé, l'objectif télécentrique ou l'objectif de structure télécentrique, l'objectif de marque de haute définition, la distorsion d'objectif 0.03% - 0.005% (different multiple different Distortion), zoom zoomable 50x, taille d'échantillon d'impact de capture automatique pour la mesure;

2.4Conformément aux exigences de taille de l'échantillon Standard GB / t 229, toutes les tailles spécifiées dans la norme peuvent être mesurées efficacement et facilement: angle d'entaille de l'échantillon d'impact, profondeur de l'entaille, rayon de la racine de l'entaille, hauteur du fond de l'entaille, largeur de l'échantillon, longueur de L'échantillon, angle d'angle d'angle de l'axe longitudinal de l'entaille, mesure de l'angle de la face axiale de l'échantillon, mesure de la distance plan de symétrie

2.5Mesure d'image, outil de marquage: il existe de nombreux types d'outils de mesure tels que la ligne droite, la longueur, la distance de deux points, la distance verticale de plusieurs points à la même ligne droite, ainsi que des flèches, des mots, des points de marquage et d'autres types d'outils de marquage, avec la mesure manuelle, automatique de la taille de l'échantillon d'impact et la fonction de mesure comparative du modèle, après l'erreur de mesure automatique, peut être vérifiée par la mesure manuelle, etc.;

2.6Le système de mesure analytique peut être à nouveau développé en fonction des besoins de mesure de l'utilisateur: fonction de mesure d'importation secondaire d'images; Fonction de requête de résultats historiques; Mesure de la valeur de dilatation latérale de la coupure d'impact, mesure de la coupure DWTT, mesure de la fibrométrie de la coupure d'impact et autres fonctions étendues;

2.7Pour plus d'informations techniques sur les mesures d'analyse d'écart, veuillez contacter l'Ingénieur technique de fordler instruments.