Olympus Microscope confocal ols5000

Le Microscope confocal laser Olympus ols5000 pour la mesure 3D est doté d'un système optique avancé qui permet de produire des images de haute qualité d'image avec des observations non destructives pour des mesures 3D précises, des mesures de rugosité de surface conformes aux normes ISO, etc. sa préparation est également très simple et ne nécessite aucun traitement préalable de L'échantillon.

LEXT OLS5000 3DLe microscope laser de mesure est équipé de deux systèmes optiques (optique d'imagerie couleur et optique confocale laser) qui lui permettent d'acquérir des informations de couleur, des informations d'altitude et des images haute résolution.

LEXT OLS5000 3DLe microscope laser de mesure a4Grandes valeurs clés:

·Capturez n'importe quelle forme de surface.

·Obtenez rapidement des données fiables.

·Simplicité d'utilisation- Oui.Il suffit de placer l'échantillon et d'appuyer sur un bouton.

·Mesurer des échantillons difficiles.

Valeur1: capture toute forme de surface.

OLS5000La technologie avancée du microscope lui permet de réaliser des3DMesure des échantillons.

Valeur2Accès rapide à des données fiables

L'algorithme de balayage de ce microscope améliore à la fois la qualité des données et la vitesse, réduisant ainsi votre temps de balayage et simplifiant votre flux de travail,zuiAugmentation de la productivité.

Valeur3, facile à utiliser, il suffit de placer l'échantillon et d'appuyer sur le bouton

LEXT ® OLS5000Le microscope dispose d'une fonction d'acquisition automatique des données, ce qui élimine le besoin de réglages complexes. Même les utilisateurs rouillés peuvent obtenir des résultats de détection précis.

Valeur4Des échantillons mesurables difficiles

La mesure laser non destructive à faible rendement et sans contact signifie qu'aucune préparation d'échantillon n'est requise. Il peut être mesuré sans endommager le matériau d'usure. Support d'extension pouvant accueillir jusqu'à210Des échantillons en millimètres, tandis que les objectifs à très longue distance de travail sont capables de mesurer des profondeurs allant jusqu'à25Fossettes millimétriques. Lors de la mesure de ces deux types d'échantillons, il vous suffit de placer l'échantillon sur la table de chargement.

[Obtenir des informations en couleur]
Utilisation de systèmes optiques d'imagerie couleur utilisant la lumière blancheLEDSources lumineuses etCMOSLa caméra obtient des informations de couleur.
[Obtenir3DInformations d'altitude et images confocales haute résolution]
Système optique Confocal Laser adopté405La source lumineuse à diode nanolaser et le photomultiplicateur à haute sensibilité obtiennent une image confocale. Une faible profondeur focale permet de mesurer les irrégularités de surface d'un échantillon.

[405Source de lumière nanolaser]

La résolution latérale du microscope optique est augmentée avec la diminution de la longueur d'onde. Microscope laser avec laser à courte longueur d'onde par rapport à la lumière visible (PIC550Nano) avec une résolution latérale plus optimale pour les microscopes traditionnels.OLS5000Utilisation du Microscope405Les diodes laser nanométriques à courte longueur d'onde obtiennent une résolution latérale exceptionnelle.

[Système optique Confocal Laser]

L'optique confocale laser ne reçoit que les rayons focalisés à travers un trou d'épingle circulaire et ne recueille pas tous les rayons réfléchis et diffusés sur l'échantillon. Cela aide à éliminer le flou, ce qui lui permet d'obtenir des images plus contrastées qu'un microscope ordinaire

[X-YScanner]

OLS5000Le Microscope est équipé d'un scanner optique Olympus. En adoptant l'induction électromagnétiqueMEMSDu scanner résonantXAxes et adoptionGalvanoScanner le miroir vibrantYL'axe combiné permet deX-YLe scanner est positionné dans une position de conjugaison pupillaire - miroir relative de l'objectif, ce qui permet d'atteindre l'excellence avec une distorsion de trajectoire de balayage inférieure et des aberrations optiques réduitesX-YScan.

[Principe de mesure de la hauteur]

Lors de la mesure de l'altitude, le microscope acquiert plusieurs images confocales en déplaçant automatiquement la position de mise au point.
Selon la position focale non continue (Z), et détecter l'intensité lumineuse (I), il est possible d'estimer la courbe de variation de l'intensité lumineuse de chaque pixel (I-ZCourbe) et obtenir sa position de pointe et son intensité de pointe. Comme les positions crêtes de tous les pixels correspondent aux irrégularités de la surface de l'échantillon, il est possible d'obtenir une3DInformations sur la forme. De même, une image (image étendue) pour tous les points focaux situés sur la surface de l'échantillon peut être obtenue avec des données d'intensité de pointe.

Spécifications de l'hôte: