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Instruments optiques kartes (Suzhou) Co., Ltd
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Microscope métallographique krts mx50m

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Vue d'ensemble

Le microscope métallographique krtsmx50m est appliqué dans le domaine de l'inspection industrielle et de l'analyse métallographique, chaque mécanisme d'exploitation est conçu selon l'ergonomie pour réduire la fatigue d'utilisation

Détails du produit

Le microscope métallographique krts mx50m est utilisé dans le domaine de l'inspection industrielle et de l'analyse métallographique, chaque mécanisme d'exploitation est conçu selon l'ergonomie pour minimiser la fatigue d'utilisation. Conception modulaire des composants pour une combinaison libre des fonctions du système. Plate - forme de travail mobile à grande course, objectif semi - apochromatique à longue distance de travail, image nette et nette, intégrant de nombreuses fonctions d'observation telles que le champ clair, l'éclairage oblique, la polarisation, l'interférence différentielle DIC, peut être choisie en fonction de l'application pratique.
Conception de tête d'observation Multi - Rapport de séparation de la lumière
La nouvelle cartouche d'observation de microscope métallographique de la série krts mx50m, conçue avec un système d'imagerie à faisceau large, prend en charge l'observation à Champ ultra - large de 26,5 mm pour vous offrir une nouvelle expérience de grand champ. Le barillet d'observation trinculaire à charnière d'image droite à deux vitesses garantit que la direction de déplacement de l'échantillon correspond à la direction que vous observez à travers l'oculaire, ce qui rend l'opération plus appropriée.
Cylindre d'observation trioculaire à charnière à trois vitesses, sur la base de la lumière d'imagerie 100% pour l'observation binoculaire ou la photographie trioculaire, ajouter une première vitesse de 20% pour l'observation binoculaire et 80% pour la microphotographie, pratique pour l'utilisateur d'effectuer simultanément une observation comparative de l'image sous miroir avec l'Image vidéo.
Système optique
Conception synchrone d'un ensemble complet d'objectifs à double usage à champ ouvert et à champ sombre clair, la luminosité de l'éclairage en champ sombre est plus de 2 fois supérieure à celle des objectifs à champ sombre traditionnels. Avec un objectif à longue distance de travail nouvellement conçu, une technologie d'aberration chromatique semi - apochromique, une technologie de revêtement multicouche à large bande, une source lumineuse LED à longue durée de vie, associée à de nombreux accessoires hautement fonctionnels, la distance de travail effective de l'objectif 50x est de 7,9 mm, la distance de travail effective de l'objectif 100X a également atteint 2,1 mm, plus l'objectif métallographique à très longue distance de travail 20x, élargissant considérablement le champ d'application du modèle MX. Peut répondre à divers besoins d'inspection, peut être utilisé pour le champ clair, la polarisation facile, l'observation d'interférence différentielle, spécialement pour l'industrie LCD / TFT verre / COG empreinte de particules conductrices, inspection d'explosion de particules.
Des moyens d'observation riches pour répondre à vos besoins de détection

Observation en champ clair: le système d'éclairage à réflexion de Kola télécentrique, associé à l'objectif achromatique à champ plat à distance de travail infiniment longue nouvellement conçu, permet d'obtenir des images microscopiques nettes, plates et lumineuses de haute qualité.

Observation du champ sombre: tirez le tirant d'éclairage du champ sombre à l'emplacement spécifié, vous pouvez utiliser la fonction de champ sombre, vous pouvez observer toutes sortes de rayures, de points d'impuretés et d'autres défauts subtils sur la surface de l'objet. Feuille d'atténuation intégrée pour réduire l'irritation des yeux par la transformation violente de la ligne de temps de commutation de champ clair et sombre.

Observation polarisée facile: insérez le miroir de renvoi et la plaque d'insertion du miroir de renvoi dans l'emplacement spécifié de l'illuminateur pour une observation polarisée facile. Le miroir d'inspection peut être divisé en fixe et 360 ° rotatif.

Observation interférométrique différentielle DIC: sur la base de la polarisation orthogonale, insérer un prisme DIC, vous pouvez effectuer une observation interférométrique différentielle DIC. En utilisant la technologie DIC, vous pouvez faire de petites différences de haut et de bas sur la surface de l'échantillon pour produire un effet de relief évident, améliorant considérablement le contraste de l'image. Peut correspondre à l'objectif avec la fonction DIC, ce qui rend la couleur d'interférence cohérente dans tout le champ de vision, l'effet d'interférence différentielle est excellent, et l'effet DIC de l'objectif est également meilleur.
Système de rapport interférométrique différentiel normanlsky
Le tout nouveau composant interférométrique différentiel U - dicr développé peut transformer des différences subtiles de haut et de bas indétectables sous l'observation en champ ouvert en différences de lumière et d'obscurité à contraste élevé et se manifester sous forme de relief stéréoscopique, telles que des particules conductrices LCD, des rayures de surface de disque de précision, etc.
Plusieurs filtres interférentiels en option
Lorsque vous utilisez une lampe halogène 12v100w pour l'éclairage, vous pouvez choisir un filtre de type lumière du jour LBD, qui peut filtrer la lumière dans la couleur de la lumière naturelle du jour, le fond de l'image est doux et blanc vif. Selon les besoins de la détection industrielle spécifique, des filtres d'autres couleurs peuvent être sélectionnés pour ajuster le spectre lumineux afin d'obtenir les meilleurs résultats d'image.
Convertisseur d'objectif haute performance

Le convertisseur du modèle MX est conçu avec des roulements de précision, la sensation de rotation est légère et confortable, la précision du positionnement répété est élevée, la concentricité de l'objectif après la conversion est également mieux contrôlée, selon la configuration et la fonction des modèles de la série MX, différents modèles de convertisseurs peuvent être sélectionnés.

Modèle

KRTS

MX50M

KRTS

MX50MTMéthode d'observationChamp clair/Éclairage oblique/

Lumière polarisée/DICChamp clair/Éclairage oblique/Lumière polarisée

/DIC/

Lumière transmise

Système optique

Système optique de correction de l'aberration chromatique lointaine infinieOculairesOculaire à champ plat à grand champ visuel à points oculaires élevés

PL10X25mm, visibilité réglableOculaire à champ plat à grand champ visuel à points oculaires élevés

PL10X25mm, avec Réticule à une échelle, vision réglableOculaire à champ plat à grand champ visuel à points oculaires élevés

PL10X26.5mm, visibilité réglableOculaire à champ plat à grand champ visuel à points oculaires élevés

PL10X26.5mm, avec Réticule à une échelle, vision réglable

Oculaire à champ plat à grand champ visuel à points oculaires élevés

30PL15X/16mm Cartouche d'observation° inclinaison, image positive, cartouche d'observation à trois voies à charnière infinie, réglage de la distance pupillairePour:50-76mm, rapport de division de la lumière100: 0Ou0: 100(soutien

3025/26.5mm Champ de vision)° inclinaison, image inversée, cartouche d'observation à trois voies à charnière infinie, réglage de la distance pupillairePour:50-76mm, rapport optique à trois vitesses0: 100;20: 80 heures;100: 0(soutien

25/26.5mm

Champ de vision)ObjectifObjectif métallochromatique semi - apochromatique à champ clair (5X10X20X50X

100X) etObjectif métallochromatique semi - apochromatique à champ clair (5X10X20X50X

100X) (en option)Objectif métallochromatique semi - apochromatique ultra longue distance de travail en champ sombre clair (

20X

) (en option)5Convertisseur6Le champ obscurConvertisseur de trous, champ clair et sombreConvertisseur de trous (avec

DIC6Slots)7Champ clairConvertisseur de trous, champ clairConvertisseur de trous (avec

DIC

Slots)Mécanisme de focusRacks pour réflexion,Mécanisme de mise au point micro - coaxial grossier en position basse. Itinéraire de réglage grossier25mm,Précision de réglage fin0.001mm. avec un dispositif de serrage réglable pour empêcher la chute et un dispositif de position supérieure aléatoire. Intégré

100-240VSystème de tension large, avec gradation numérique, avec réglage de l'intensité lumineuse et fonction de réinitialisationRack anti - double usage transparent,Mécanisme de mise au point micro - coaxial grossier en position basse. Itinéraire de réglage grossier25mm,Précision de réglage fin0.001mm. avec un dispositif de serrage réglable pour empêcher la chute et un dispositif de position supérieure aléatoire. Intégré100-240VSystème de tension large,Sortie d'alimentation à deux voies, avec gradation numérique, avec réglage de l'intensité lumineuse et fonction de Réinitialisation, réflexion/Commutateur de commutation de lumière transmise,Filtre de transmission de lumière intégré (LBDND6

ND25)4Table de chargementPosition droitePlate - forme mécanique en pouces, voyage105mmx102mm, avec

Y

Mécanisme de verrouillage d'axe, peut être avec système de transmission pare - brise, avec plaque de support en verreCorps de microscopeCoaxial de réglage grossier, course de réglage grossier33mm, précision de réglage0.001mm,, avec réglage grossier position supérieure du mécanisme et dispositif de réglage serré. Intégré90-240VTransformateur de tension large, sortie d'alimentation simple(

Le système transréfléchissant est une sortie d'alimentation à deux voies

) etSystème d'éclairage réfléchissant 12V100WChambre halogène, transparent, universel réfléchissant, Centre prédéterminé, illuminateur réfléchissant de champ clair et sombre avec diaphragme à ouverture variable, diaphragme de champ de vision, réglable au Centre; avec dispositif de commutation d'éclairage à champ sombre clair; Avec fente pour filtre de couleur, avec miroir déviateur

/

Fente pour miroir correcteur360Polarisé

Miroir d'inspection peut

Degrés de rotation, le miroir de déviation et le miroir de déviation fixe peuvent être déplacés hors du chemin optique Autres accessoires (en option) Jeu de filtres interférentiels pour réflexion; règle micrométrique de haute précision;DIC