Microscope métallographique krts mx40m

NégociableMise à jour sur12/08

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Vue d'ensemble

Le microscope métallographique krtsmx40m est appliqué dans le domaine de l'inspection industrielle et de l'analyse métallographique, chaque mécanisme d'exploitation est conçu selon l'ergonomie pour réduire la fatigue d'utilisation

Détails du produit

Le microscope métallographique krts mx40m est utilisé dans le domaine de l'inspection industrielle et de l'analyse métallographique, chaque mécanisme d'exploitation est conçu selon l'ergonomie pour minimiser la fatigue d'utilisation. Conception modulaire des composants pour une combinaison libre des fonctions du système. Plate - forme de travail mobile à grande course, objectif semi - apochromatique à longue distance de travail, image nette et nette, intégrant de nombreuses fonctions d'observation telles que le champ clair, l'éclairage oblique, la polarisation, l'interférence différentielle DIC, peut être choisie en fonction de l'application pratique.
Conception de structure de rack sûre et stable
Le corps de microscope de qualité de détection industrielle, le Centre de gravité bas, la rigidité élevée, le cadre métallique de haute stabilité garantissent la résistance sismique et la stabilité d'imagerie du système.
Son mécanisme de mise au point coaxiale à réglage grossier et fin en position basse à l'avant avec transformateur de tension large intégré de 100 - 240V s'adapte à la tension du réseau électrique dans différentes régions. L'intérieur de la base est conçu avec un système de dissipation de chaleur à circulation de vent qui ne surchauffe pas le rack pendant une longue période d'utilisation.

Système optique
Avec un objectif à longue distance de travail nouvellement conçu, une technologie d'aberration chromatique semi - apochromique, une technologie de revêtement multicouche à large bande, une source lumineuse LED à longue durée de vie, associée à une variété d'accessoires hautement fonctionnels, peut répondre à divers besoins d'inspection, peut être utilisé pour le champ clair, La polarisation facile, l'observation d'interférence différentielle, spécialement pour l'industrie LCD / TFT verre / COG empreinte de particules conductrices, inspection d'explosion de particules.

Plateforme mobile
Equipé d'une plate - forme mécanique de 4 pouces avec embrayage 230x215mm, course 105mmx105mm, mouvement rapide, Design ergonomique confortable, cylindre de miroir hautement rigide, base de type "y", mécanisme de mise au point avec commande de fonctionnement à l'avant, réglage fin du coaxial.

Illuminateur réfléchissant
Un seul éclairage LED blanc haute puissance 5W avec mécanisme d'éclairage oblique. Lorsque vous passez à l'éclairage oblique, vous pouvez rendre les différents matériaux de la surface de l'objet présentent des motifs stéréoscopiques, augmentant le contraste observé et l'effet visuel.

Système de rapport interférométrique différentiel normanlsky

Le tout nouveau composant interférométrique différentiel U - dicr développé peut transformer des différences subtiles de haut et de bas indétectables sous l'observation en champ ouvert en différences de lumière et d'obscurité à contraste élevé et se manifester sous forme de relief stéréoscopique, telles que des particules conductrices LCD, des rayures de surface de disque de précision, etc.

Convertisseur d'objectif haute performance

Le convertisseur du modèle MX est conçu avec des roulements de précision, la sensation de rotation est légère et confortable, la précision du positionnement répété est élevée, la concentricité de l'objectif après la conversion est également mieux contrôlée, selon la configuration et la fonction des modèles de la série MX, différents modèles de convertisseurs peuvent être sélectionnés.

Modèle	KRTS	MX40M
KRTS	MX40MTMéthode d'observationChamp clair/Éclairage oblique/	Lumière polarisée/DICChamp clair/Éclairage oblique/Lumière polarisée
/DIC/	Lumière transmise
Système optique	Système optique de correction de l'aberration chromatique lointaine infinieOculaires
PL10X/22	30Oculaire à point oculaire élevé à champ platCartouche d'observation° tri - Mesh charnière, rapport de division lumineuse, binoculaire: tri - Mesh0= 100Pour:
Ou	50: 50Objectif
	Objectif achromatique à champ plat à distance de travail infiniment longue5X LMPL5X /0.15 WD10.8mm
	Objectif achromatique à champ plat à distance de travail infiniment longue10X LMPL10X/0.30 WD10mm
	Objectif achromatique à champ plat à distance de travail infiniment longue20X LMPL20X/0.45 WD4mm
	Objectif doré semi - éteint à champ plat à distance de travail infinie50X LMPLFL50X/0.55 WD7.9mmObjectif doré semi - éteint à champ plat à distance de travail infinie
100X LMPLFL100X/0.80 WD2.1mm	5(option d'achat)ConvertisseurConvertisseur d'inclinaison interne de trou, avec
DIC	4SlotsTable de chargement« plate - forme mobile mécanique à deux étages, voyage105x 105mm, avec plateforme métallique, position droiteX、	4YVolant mobile, avec interface de plate - forme« plate - forme mobile mécanique à deux étages, voyage105x 105mm, avec plate - forme en verre, position droiteX、
Y	Volant mobile, avec interface de plate - formeCorps de microscopeCoaxial de réglage grossier, course de réglage grossier33mm, précision de réglage0.001mm,, avec réglage grossier position supérieure du mécanisme et dispositif de réglage serré. Intégré90-240VTransformateur de tension large, sortie d'alimentation simple(
Le système transréfléchissant est une sortie d'alimentation à deux voies	) etSystème d'éclairage réfléchissantAvec diaphragme à champ de vision variable et diaphragme d'ouverture, Centre réglable; Avec fente pour filtre de couleur et fente pour dispositif polarisant; Avec barre de commutation à éclairage oblique.12V100WLampe halogène, intensité lumineuse réglable en continu (lors du choix de cet ensemble d'illuminateurs, vous devez utiliser
MX60M	Corps de microscope)	Système d'éclairage par transmissionAucunUne seule grande puissance5W LED, blanc, intensité lumineuse réglable en continu.
N..A.0.5	Condenseur avec diaphragme à ouverture variable360Polarisé
Miroir d'inspection peut	Degrés de rotation, le miroir de déviation et le miroir de déviation fixe peuvent être déplacés hors du chemin optique Autres accessoires (en option) Jeu de filtres interférentiels pour réflexion; règle micrométrique de haute précision;DIC

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