Système de courbe tlp Pulse IV série es622

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Vue d'ensemble

Le système de courbe IV pulsé tlp de la série es622 est un système avancé de caractérisation de courbe IV conçu pour simuler les propriétés temporelles de haute puissance des événements ESD (impulsions tlp / VF - tlp / Hmm / hbM / MM) et des dispositifs de surveillance (semi - conducteurs, dispositifs discrets, modules de circuit, etc.). Comparé à ses prédécesseurs es620 et es621, le système tlp es622 est plus précis, plus fonctionnel, plus évolutif et offre une meilleure expérience logicielle.

Détails du produit

Esdemc Technology LLC a été fondée en mars 2011 par Wei Huang à Rolla, Missouri, États - Unis.Esdemc développe des solutions ESD et EMC. La société s'engage à fournir des solutions innovantes, avancées, de haute qualité et rentables, ainsi que des conseils généraux, des services de test et des projets personnalisés.Produits inclus système de modèle de dispositif de charge (CDM), câbleSystème d'événement de décharge (CDE), simulateur ESD, atténuateur d'impulsion, sonde de courant, batterie TEM pour l'émission / immunité RF, alimentation DC haute tension, conception personnalisée haute tension / RF.Esdemc Technology est membre corporatif de l’association ESD depuis 2012.

Système de courbe tlp Pulse IV série es622Il s'agit d'un système avancé de caractérisation de courbes IV conçu pour simuler les événements ESD (impulsions tlp / VF - tlp / Hmm / hbM / MM) et les propriétés temporelles de haute puissance des dispositifs de surveillance (semi - conducteurs, dispositifs discrets, modules de circuits, etc.). Comparé à ses prédécesseurs es620 et es621, le système tlp es622 est plus précis, plus fonctionnel, plus évolutif et offre une meilleure expérience logicielle.

La fonction de test tlp (Transmission Line Pulse) est conçue pour répondre aux dernières normes de test ANSI / ESD stm5.5.1 en injectant des impulsions rectangulaires de haute qualité dans le dispositif testé et en enregistrant la tension aux bornes du dispositif et le courant qui le traverse. Le logiciel de test Dessine automatiquement la courbe IV impulsionnelle et caractérise la réponse transitoire du dispositif dans une fenêtre de temps de l'ordre de la nanoseconde. L'appareil intègre des méthodes avancées de détection automatique des défauts de l'appareil, telles que: détection monopoint DC (V ou i), courbe IV statique, fusion, claquage et ondulation de la source de polarisation.

Le test VF - tlp est conçu pour simuler des événements ESD de type CDM et capturer la tension aux bornes du dut et le courant traversant le DUT sous une injection ESD à grande vitesse (par exemple < 100 ps de temps de montée). Un tel test peut être utilisé pour étudier des caractéristiques telles que la vitesse de réponse du dispositif et la tension de pincement de crête.

La fonction de test du mannequin métallique (Hmm) est une méthode de test alternative pour les ESD au niveau du système iec61000 - 4 - 2. Il fournit une forme d'onde équivalente idéale pour les dispositifs à faible impédance et élimine de nombreux problèmes de test au pistolet IEC pour les tests au niveau du composant ou de la plaquette, tels que la mauvaise répétabilité, la position imprécise de l'injection de la pointe du pistolet, l'inadéquation de l'impédance, les interférences EMI provenant de relais non blindés et les exigences particulières de l'installation nécessitant un grand plan de masse et un plan de couplage, etc.

Caractéristiques du produit

■Système de courbe tlp Pulse IV configurable de manière flexible

■Design ultra compact

■Vitesse de test ultra - rapide avec capacité de traitement Multithread

■fournir20 AEt,40AEt,50 AEt,100 AEt,125AEt,150 AModèle (peut être personnalisé)

■Logiciel de test avancé, programmable, système de surveillance Équipement de test et accessoires (détection de la durée de vie de l'interrupteur, module e - Cal, ondulationConseils d'ajustement de l'atténuation de l'atténuateur, etc.)

■Plusieurs fonctions de test peuvent être étendues:VF-TLPEt,HMMEt,HBMEt,MM

■Plusieurs méthodes de détection automatique des défauts(DC détection point unique (VouJe) ouIVBalayage, fusion, claquage et variations de courant de polarisation)

■Impulsion de contrôle du logiciel: impulsion unique, impulsion continue,IVTest de balayage de courbe

■Plage optionnelle de temps de montée:40 psà1200 ns(dépend du modèle, peut être personnalisé)

■Largeur d'impulsion gamme optionnelle:0,5 nsà2000 ns(dépend du modèle, peut être personnalisé)

Application du produit

■Caractérisation des performances ESD

■Test ESD au niveau Wafer / Packaging

■Test ESD du module système / circuit

■Test de zone d'exploitation sécurisée (SOA)

■Test de temps de récupération de charge

■Caractéristiques de la diode du panneau solaire

■Écran tactile Ito microband Line test de fusion et de claquage

Normes associées:

■L'option tlp / VF - tlp est conforme à la norme ANSI / ESD STM 5.5.1  l'option Hmm est conforme à la norme ANSI / ESD sp5.6

■Les options hbM sont conformes à la norme ANSI / ESDA / jedec JS - 001

■L'option mm est conforme à la norme ANSI / ESDA sp5.2

Système de courbe tlp Pulse IV série es622Spécifications du produit

Fiche technique de l'unité tlp série es622
Modèle typique	ESS622-20	ESS622-50	ESS622-100	ESS622-125	ESS622-150	unité	* modèles spéciaux disponibles sur demande, par exemple 40 / 60 / 80 / 100 / 200 + A
Tension de sortie en circuit ouvert	± 0,5 ~ 1000	± 0,5 ~ 2500	± 0,5 ~ 5000	± 0,5 ~ 6250	± 0,5 ~ 7500	V
Pas de tension minimum	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	V
Courant de sortie de court - circuit	± 0,01 ~ 20	± 0,01 ~ 50	± 0,01 ~ 100	± 0,01 ~ 125	± 0,01 ~ 150	Un
Précision de tension	Précision réglable entre 1 et 10%					% de	Vitesse / précision logiciel réglable
Temps de montée le plus rapide * (20 - 80% par défaut)	≤ 50	≤ 200	≤ 300	≤ 300	≤ 300	ps	Jusqu'à 40 PS (10 - 90%) de temps de montée
Plage de temps de montée	0,04 ~ 1200	0,2 ~ 1200	0,3 ~ 1200	0,3 ~ 1200	0,3 ~ 1200	ns
Options de temps de montée	Options programmables ou manuelles illimitées						Personnalisable
Largeur d'impulsion par défaut	100 ± 1					ns	50 à 50%
Largeur d'impulsion minimale	0.5	1	5	5	5	ns
Largeur d'impulsion maximale	2000	2000	1500	1500	1000	ns
Options de largeur d'impulsion	Options programmables ou manuelles illimitées						Personnalisable
Vitesse de test	Habituellement 0.2 ~ 2					Sec	Varie selon les paramètres matériels
taille	347 W X 300 D X 145 H					mm	Peut changer en raison de la personnalisation
poids	8	8	8	10	12	kilogrammes
Oscilloscopes supportés	Principales séries de Tektronix, Agilent, lecroy, rigol						Autres support sur demande
Smu pris en charge	Keithley 24xx / 26xx série smu						Autres support sur demande

Shanghai ElectricitéSous - technologie Cie., Ltd shzhtechC'est une société diversifiée qui intègre les ventes d'agents d'instruments, la fourniture de programmes d'essai, le support technique avant et après - vente et la réparation d'instruments et d'instruments. Dédié à fournir des solutions de test complètes professionnelles, la formation technique, les services de réparation pour les clients dans les domaines connexes.

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