DualBeamMicroscope

Scios DualBeam

Thermo Scientific ™ Scios ™ DualBeam ™Est une haute résolutionDualBeamLe système d'analyse peut être excellent2DEt3DAnalyse de performance de nombreux échantillons, y compris les matériaux magnétiques.Scios DualBeamDes fonctionnalités innovantes qui améliorent le flux, la précision et la facilité d'utilisation sont idéales pour la recherche et l'analyse avancées dans les milieux de recherche collégiale, gouvernementale et industrielle.

La technologie de détection avancée estThermo Scientific ™ Scios DualBeamLa technologie de base. À l'intérieur de la lentilleFEI Trinity ™La technologie de détection est capable de collecter tous les signaux simultanément, ce qui permet à la fois de gagner du temps et de créer un contraste saisissant, facilitant ainsi l'acquisition du plus grand nombre de données possible. Le détecteur de rétrodiffusion concentrique sous lentille innovant améliore l'efficacité, vous permettant de sélectionner les signaux en fonction de leur distribution angulaire, ce qui facilite la séparation des contrastes matériels et morphologiques, même lorsque l'énergie d'atterrissage est20 eVIl en est de même.

Scios DualBeamApplications de la science des matériaux

Scios DualBeamParticulièrement adapté pour une utilisation dans de nombreux matériaux tels que les métaux, les composites et les revêtements, capable de:

• Effectuer une imagerie haute résolution et à contraste élevé et ne fait pas exception aux échantillons magnétiques

• UtilisationTrinityLes kits de détection détectent les matériaux, la morphologie et le contraste des bords de manière synchrone, analysant ainsi les différentes propriétés des matériaux

• Grâce à la lithographie inhibitrice de dérive, il est possible de réaliser des tranches avec une spécificité de position sans préparation d'échantillon et même de travailler sur des matériaux non conducteurs

• Générer un cube de données tridimensionnel pour déterminer la taille et la distribution des inclusions dans le métal ou effectuer une analyse des contraintes et des déformations dans toutes les directions de la pointe de fissure

• Match avecEasyLift ™Des échantillons de haute qualité peuvent être préparés rapidement et de manière fiable, et une énergie de faisceau d'électrons minimale est nécessaire pour obtenir des échantillons de haute qualitéS/TEMRésultats

• PourDealBeam^™ Les applications courantes offrent des guides d'utilisation exclusifs et un flux de travail étape par étape, permettant aux opérateurs de tout niveau d'expérience d'être immédiatement opérationnels

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